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台北市中山區南京東路三段168號8樓之1
2014-09-16
光學顯微鏡+SEM+粗糙度儀=KEYENCE 雷射顯微鏡!
需要做表面微結構觀察的工程師朋友們有福了! 針對傳統設備常見的問題，KEYENCE雷射顯微鏡都提出了解決方案。「無需對焦」的全新觀察形式讓顯微鏡觀察不再受景深的限制，即使在高倍率下也只要按下一個按鈕，使用「即時景深合成」功能，即可瞬間取得全對焦影像，解析度更高達24000倍。
除此之外，VK-X系列擁有業界最高的16位元雷射彩色觀察，透過CCD CAMERA提取雷射獲得的像素，將其轉換為高解析度的彩色圖像，解決SEM黑白圖像難以辨別的問題。使用雷射光束掃描量測也能避免一般粗糙度儀接觸式量測造成的樣品損傷，直徑僅有0.4μm的雷射光束能更精確地量測出細微形狀。
同時因具備自動量測功能，有助於大幅簡化量測的步驟及所需時間。無論是任何人，只需按下按鈕，即可自動執行各種量測功能，初次使用者亦可輕鬆進行最佳條件的分析。
KEYENCE雷射顯微鏡VK-X系列，集光學顯微鏡、SEM和粗糙度儀的功能於一身！想了解更多關於VK-X系列全能的解析度觀察以及豐富的形狀量測的詳細內容嗎？立即點擊前往http://www.keyence.com.tw/vkx_l。
