G-LONG INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD.
產品介紹
5軸控制移動之全周輪廓量測儀器, 適合量測樣品在120mm以下且須1um以下量測精度要求之樣品, 雷射光點直徑1um與接觸式觸針相當, 可量測接觸式觸針無法量到之溝穴輪廓, 適合用於精密加工或超精密加工之樣品輪廓量測, 量測數據可3D建模提供逆向工程量測參考。
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【 產品特色 】
* 最小雷射光點 1um(obj.x100)
* XYZ 載台120x120x130 mm
* AF(R):40mm
* AZ迴傳軸:360゜
* XYZ 解析: 0.1x0.1x0.1um
* AF(R)解析:0.01um
* AZ解析 : 0.0002゜
【 應用複合材料 】
使用ISO 25178-605之點雷射探針量測法,對樣品做全周輪廓掃描,
可量測樣品之表面輪廓,全周輪廓,粗度,真圓度,3D形貌,量測數據可以與CAD檔比對
* 非接觸式方法,量測齒輪輪廓,T 齒輪模數及形狀粗度粗度漸開線齒輪, 非漸開線齒輪, 正齒輪, 內齒輪, 傘齒輪...等各式齒輪量測
* 可量測齒輪模數小於0.5之非接觸式量測儀
* 螺桿螺絲量測參數提供: 幾何輪廓, 波紋度, 粗糙度, 導程角(螺旋角),
* 軟質材料, 如矽橡膠製品
* 透明材料, 如導光板, 透鏡, 寶石球體
* 沖壓材料: 如軸承, 扣件, 精密壓鑄成形, 精密射出成形
* 精密加工: 如精密螺絲, 滾珠螺桿, 精密滑軌, 小模數齒輪、軸承、滑軌…等
* 精密模具壓鑄品:模具、光學元件、扣件…等
* 精密光學元件:光纖、微精密齒輪、微精密螺絲…等
最小雷射光點 1um(obj.x100 NA0.95)
長行程工作範圍 (客製化可)
XYZ 載台120x90x130 mm
AF(R):40mm
AZ迴傳軸:360゜
XYZ 解析: 0.1x0.1x0.1um
AF(R)解析:0.01um
AZ解析 : 0.0002゜
齒輪齒型, 幾何輪廓及形狀粗度量測
齒輪內外徑同心度量測